明場和暗場的區別在于：一個是透射束成像，一個是衍射束成像；

透射電鏡圖像分為試樣的顯微像和衍射花樣，這兩種像分別為不同電子成像，前者是透射電子成像，后者為散射電子成像。

透射電鏡中，不僅可以選擇特定的像區進行電子衍射（選區電子衍射），還可以選擇成像電子束。（選擇衍射成像）

明場像（Bright Field）：選用直射電子形成的像（透射束），像清晰。

暗場像（Dark Field）：選用散射電子形成的像（衍射束），像有畸變、分辨率低。

成像電子的選擇是通過在物鏡的背焦面上插入物鏡光闌來實現的。

中心暗場像（Center Dark Field）：入射電子束對試樣傾斜照明，得到的暗場像。像不畸變、分辨率高。

暗場成像條件下，成像電子束偏離透射電鏡的光軸，造成較大的像差，成像質量差，為獲得高質量暗場像，采取中心暗場成像。即入射電子束反向傾斜一個相應的散射角度，使散射電子沿光軸傳播。

所謂明場，暗場成像只是對低倍觀察時說的。

一般來說，觀察形貌常用明場像，因為成像襯度好（尤其是加了合適的光闌），形變小。其主要表現為厚度襯度，對厚度敏感。而觀察缺陷如位錯，孿晶的時候常用暗場像，因為暗場像是來自于選定的某個衍射束，對應于晶體特定的晶面。在缺陷地方，電子衍射的方向和完整的地方不一樣，從而使得缺陷地方能夠在暗場像上清楚的顯示出來。而明場像因為是多個衍射束的成像，對缺陷不敏感，雖然有時候也能反應出缺陷，但是及其模糊。其主要表現為衍射襯度。也就是對衍射面敏感。

比如說一個孿晶材料，對于明場，孿晶界面很淡，但是選擇合適的衍射點做暗場像可以很清楚的看見孿晶界面。而且選擇其中一個晶體特有的衍射點，做暗場可以發現只有這一個晶體出現在圖像上，而另外一個晶體看不見。

不論明場還是暗場，它們都是服務于被測物，取決于對于被測物檢測的要求，它們各有優勢，重要的是我們如何利用它們各自的優勢服務于整體的檢測系統。